News | 

Steffen Reichel: Offizielle Fellow-Auszeichnung der Society for Optics and Photonics

SPIE Optical Metrology Conference: Professor wird wissenschaftliches Ehrenmitglied  



Alle zwei Jahre werden auf der internationalen Optical Metrology Conference der Society for Optics and Photonics (SPIE) wissenschaftliche Neuerungen im Bereich der Optik und Photonik diskutiert. Unter den Referenten der diesjährigen Konferenz in München war auch Prof. Dr.-Ing. Steffen Reichel. Vor internationalem Fachpublikum präsentierte er Ende Juni die Ergebnisse seiner wissenschaftlichen Arbeit mit Pforzheimer Studierenden. Darüber hinaus wurde dem Experten für Messtechnik und Photonik der Pforzheimer Fakultät für Technik eine besondere Ehre zuteil: Nach seiner Ernennung zum SPIE-Fellow zu Beginn des Jahres folgte nun die offizielle Übergabe der Plakette im Rahmen der Konferenz. Vor 400 Experten aus aller Welt nahm der Pforzheimer Professor von der SPIE-Präsidentschaft die Auszeichnung als Ehrenmitglied entgegen. Für große Errungenschaften in der Wissenschaft sowie ehrenamtliches und gemeinnütziges Engagement innerhalb der Gesellschaft wird jährlich ein kleiner Kreis langjähriger Mitglieder als potentielle neue SPIE-Fellows vorgeschlagen – die Ernennung zum Ehrenmitglied erfolgt am Ende eines strengen Auswahlverfahrens.