Exakte Messung dünner galvanischer Schichten durch Zusatzeinrichtung am Rasterelektronenmikroskop
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| Das Rasterelektronenmikroskop mit seinem extrem fein fokussierten Strahl kann diese sehr dünnen Schichten, auch bei mehrlagigem Schichtaufbau, exakt vermessen. Die dabei erreichbare hohe Auflösung und Genauigkeit ermöglicht die Messung von Schichten im Nanometerbereich. Stark gekrümmte Oberflächen sind ebenfalls messbar. |
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Im Schmuckbereich könnnen jetzt dünnste Schichten aus Gold, Rhodium, Nickel und andere zuverlässig und zerstörungsfrei gemssen werden. Die Größe des Messbereichs ist frei wählbar. Eine Schliffpräparation ist nicht mehr erforderlich. Damit können die Funktionalität der Schicht und auch der Edelmetallverbrauch überprüft werden. |
| Bei technischen Anwendugen von z. B. dünnsten galvanische, funktionellen Schichten auf Kontaktteilen, Steckern und Leiterbahnen sind diese nun ebenfalls mit diesem Verfahren einer genauen Überprüfung der Schichtstärke zugänglich. Beispiele hierfür sind dünnste Gold-, Palladium-, Zinn-, und andere Schichten. Abhängig vom Materail sind einige zehn Nanometer auflösbar. |
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