Rasterelektronenmikroskop mit Niederdruckmodus auch für nichtleitende Stoffe
Energiedispersive Röntgenanalyse für Elemente ab Ordnungszahl 4 (Beryllium)
Vergrößerung: 10-100.000fach
Geeignet zur Untersuchung von:
• Oberflächen
• Bruchflächen
• Schichtaufbau
• Einschlüssen
• Quantitative und qualitative Zusammensetzung auch im Mikrobereich
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