Metallkundliche Untersuchungen 

  • Rasterelektronenmikroskop

    Rasterelektronenmikroskop mit Niederdruckmodus auch für nichtleitende Stoffe

    Energiedispersive Röntgenanalyse für Elemente ab Ordnungszahl 4 (Beryllium)

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  • Exakte Messung dünner galvanischer Schichten

    Das Rasterelektronenmikroskop mit seinem extrem fein fokussierten Strahl kann sehr dünne Schichten, auch bei mehrlagigem Schichtaufbau, exakt vermessen. Die dabei erreichbare hohe Auflösung und Genauigkeit ermöglicht die Messung von Schichten im Nanometerbereich. Stark gekrümmte Oberflächen sind ebenfalls messbar. 
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  • Metallographie

    Untersuchung von Gefüge, Korngröße, Poren, Blausilber, optische Schichtdickenmessung, Risse

     

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  • Berührungslose Rauigkeits- und Profilmessung

    Durch Investition eines neuen 3D-Lasermikroskops mit sehr kurzwelligem Licht wird die Messung von Oberflächenrauigkeiten im Nanometerbereich ermöglicht, ohne die Probe zu berühren und damit zu beeinflussen. Auch sehr kleine Bauteile mit gewölbten Oberflächen oder engen Nuten können mit überragender Tiefenschärfe vermessen werden.

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  • Optische Messung der Geometrie spanabhebender Werkzeuge

    Für die spanabhebende Bearbeitung sind optimierte und reproduzierbare Schneidengeometrien von großer Bedeutung. Insbesondere bei filigranen Bearbeitungswerkzeugen mit Schneidkanten, die sich der Messung mit dem Messprojektor entziehen und die z. B gewölbt sind, bietet die 3-D-Laserscan-Mikroskopie eine präzise Messmöglichkeit. Mehr ...


  • Werkstoffeigenschaften

    Messung von Festigkeit und Dehnung, Härteprüfung, Schmelzverhalten u.a. Mehr ...


  • Legierungen

    Entwicklung, Optimierung und Prüfung neuer Legierungen Mehr ...