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Rasterelektronenmikroskop mit Niederdruckmodus auch für nichtleitende Stoffe
Energiedispersive Röntgenanalyse für Elemente ab Ordnungszahl 4 (Beryllium)
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Das Rasterelektronenmikroskop mit seinem extrem fein fokussierten Strahl kann sehr dünne Schichten, auch bei mehrlagigem Schichtaufbau, exakt vermessen. Die dabei erreichbare hohe Auflösung und Genauigkeit ermöglicht die Messung von Schichten im Nanometerbereich. Stark gekrümmte Oberflächen sind ebenfalls messbar.
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Untersuchung von Gefüge, Korngröße, Poren, Blausilber, optische Schichtdickenmessung, Risse
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Durch Investition eines neuen 3D-Lasermikroskops mit sehr kurzwelligem Licht wird die Messung von Oberflächenrauigkeiten im Nanometerbereich ermöglicht, ohne die Probe zu berühren und damit zu beeinflussen. Auch sehr kleine Bauteile mit gewölbten Oberflächen oder engen Nuten können mit überragender Tiefenschärfe vermessen werden.
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Für die spanabhebende Bearbeitung sind optimierte und reproduzierbare Schneidengeometrien von großer Bedeutung. Insbesondere bei filigranen Bearbeitungswerkzeugen mit Schneidkanten, die sich der Messung mit dem Messprojektor entziehen und die z. B gewölbt sind, bietet die 3-D-Laserscan-Mikroskopie eine präzise Messmöglichkeit. Mehr ...
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Messung von Festigkeit und Dehnung, Härteprüfung, Schmelzverhalten u.a. Mehr ...
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Entwicklung, Optimierung und Prüfung neuer Legierungen Mehr ...